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结构缺陷的成像方法、结构缺陷的成像装置、气泡或损害部位的成像方法以及气泡或损害部位的成像装置
专利权人:
国立大学法人东北大学
发明人:
山中一司,小原良和,新宅洋平
申请号:
CN200980128195.5
公开号:
CN102099675B
申请日:
2009.05.19
申请国别(地区):
CN
年份:
2013
代理人:
摘要:
本发明提供具有高的频率分辨率和空间分辨率的、能够提高闭合裂纹与张口裂纹的识别性的结构缺陷的成像方法和结构缺陷的成像装置。另外,本发明还提供具有高频率分辨率和高空间分辨率的、能够提高组织与气泡或损害部位的识别性的气泡或损害部位的成像方法以及气泡或损害部位的成像装置。对于超声波发射器和阵列接收器针对缺陷而不同的2个配置,由阵列接收器接收超声波发射器向结构物照射的脉冲超声波在缺陷上产生的散射波来得到接收信号。对该接收信号施加使特定频率成分通过的带通滤波器,并在使其偏移根据阵列接收器的各接收传感元件的位置而不同的时间之后,对其进行相加而得到处理信号。根据该处理信号分别得到缺陷的图像。抽取所获得的两个图像的共同部分。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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