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超音波測定装置及び測定方法
专利权人:
SEIKO EPSON CORP
发明人:
NISHIWAKI MANABU,西脇 学
申请号:
JP2014065597
公开号:
JP2015188466A
申请日:
2014.03.27
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ultrasonic measurement apparatus, a measuring method, etc. capable of measuring sieve-like board thickness information while suppressing a burden on a user.SOLUTION: An ultrasonic measurement apparatus 100 includes a sensor surface 220 that can contact the surface of an eyelid when the ultrasonic measurement apparatus 100 is mounted, an ultrasonic transducer device 210 for transmitting an ultrasonic beam to a discus nervi optici part of an eyeball through the sensor surface 220 and receiving an ultrasonic echo by the ultrasonic beam, and a control part 125 for measuring sieve-like board thickness information based on the received ultrasonic echo.COPYRIGHT: (C)2016,JPO&INPIT【課題】 使用者に対する負担を抑制しつつ、篩状板厚情報を測定することができる超音波測定装置及び測定方法等の提供。【解決手段】 超音波測定装置100は、超音波測定装置100の装着時に瞼表面に接触可能なセンサー面220と、センサー面220を介して、眼球の視神経乳頭部に超音波ビームを送信すると共に、超音波ビームによる超音波エコーを受信する超音波トランスデューサーデバイス210と、受信された超音波エコーに基づいて篩状板厚情報を測定する制御部125と、を含む。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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