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負イオン源装置
专利权人:
住友重機械工業株式会社
发明人:
衞藤 晴彦
申请号:
JP2017101974
公开号:
JP2018198136A
申请日:
2017.05.23
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
Problem to be solved: to provide a negative ion source apparatus capable of accurately detecting the residual amount of cesium stored in the cesium supply part.The cesium supply section 130 includes a conductive portion 137 provided inside the reservoir 131, and a voltage applying section 138 capable of applying a voltage between the conductive portion 137 and the reservoir 131. If the conductive portion 137 is in contact with the cesium C in the reservoir 131, a current path through which the electric current flows is formed by the conductive portion 137, cesium C and reservoir 131.Since the resistance of the current path changes due to the decrease in the residual quantity of cesium C, the voltage, current and resistance of the voltage applying section 138 are changed. Therefore, the remaining amount detecting portion 150 can detect the residual amount of cesium C in the reservoir 131 based on the measurement result by measuring the voltage, current or resistance between the conductive portion 137 and the reservoir 131.Diagram【課題】セシウム供給部に貯留されているセシウムの残量を正確に検知することができる負イオン源装置を提供する。【解決手段】セシウム供給部130は、貯留部131の内部に設けられた導電部137と、導電部137と貯留部131との間に電圧を付与可能な電圧付与部138と、を備えている。貯留部131内において、導電部137がセシウムCと接触している状態であれば、導電部137、セシウムC、及び貯留部131によって電流が流れる電流経路が形成される。セシウムCの残量が減少することにより、電流経路の抵抗が変化するため、電圧付与部138で電圧を付与した場合の電圧、電流、及び抵抗の関係が変化する。従って、残量検知部150が、導電部137と貯留部131との間の電圧、電流又は抵抗を測定することで、測定結果に基づいて貯留部131内のセシウムCの残量を検知することができる。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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