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SCANNING INSTRUMENT
专利权人:
KABUSHIKI KAISHA GC;가부시키가이샤 지씨
发明人:
MIYOSHI AI,미요시 아이,MIYOSHI AIJP
申请号:
KR1020140030065
公开号:
KR1020140118768A
申请日:
2014.03.14
申请国别(地区):
KR
年份:
2014
代理人:
摘要:
Provided is a scanning instrument obtaining a location and slope of a center axis with high precision, regarding an implant fixture for an implant bridge. The scanning instrument (10, 110) installed on an analog (20) of a model embedded with the analog includes a cylindrical body (11, 111); a fixing member (12) installing the body on the analog; and a reference point (13) obtaining a location and slop of a center axis of the analog by pattern projection.임플란트 브리지를 위한 임플란트 픽스쳐에 대해서, 높은 정밀도로 중심축의 위치 및 기울기를 취득할 수 있는 스캐닝 기구를 제공한다.아날로그(20)가 매설된 모형의 아날로그에 설치하는 스캐닝 기구(10, 110)이며, 원통 형상인 본체(11, 111)와, 본체를 아날로그에 설치하기 위한 고정 부재(12)와, 패턴 투영법에 의해 아날로그의 중심축의 위치 및 기울기의 정보를 얻기 위한 레퍼런스 포인트(13)를 구비한다.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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