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X-RAY EXAMINATION AID SET
专利权人:
HITACHI LTD;株式会社日立製作所
发明人:
MIYAMOTO TAKANORI,宮本 高敬
申请号:
JP2018013648
公开号:
JP2019129958A
申请日:
2018.01.30
申请国别(地区):
JP
年份:
2019
代理人:
摘要:
To reduce an amount of a material in an aid set consisting of a plurality of aids used in X-ray examination of a plurality of sites.SOLUTION: An aid set is composed of a first aid for a lumbar spine examination and a second aid for a femoral examination. In the lumbar spine examination, upper and lower laminates consisting of the first aid and the second aid below it are used as needed. In the femoral examination, front and rear laminates consisting of the second aid and the first aid arranged behind it are used as needed. Each aid has a sub function as a size increasing function in addition to a main function.SELECTED DRAWING: Figure 11【課題】複数の部位のX線検査において使用される複数の補助具からなる補助具セットにおいて物量を削減する。【解決手段】補助具セットは、腰椎検査用の第1補助具と、大腿骨検査用の第2補助具と、により構成される。腰椎検査時には、必要に応じて、第1補助具とその下側の第2補助具とからなる上下積層体が使用される。大腿骨検査時には、必要に応じて、第2補助具とその後側に配置された第1補助具とからなる前後積層体が使用される。各補助具が、主機能の他、サイズ増大機能としての副機能を有する。【選択図】図11
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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