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MONITORING WAVEFORM DISPLAY METHOD AND SYSTEM
专利权人:
SHENZHEN COMEN MEDICAL INSTRUMENTS CO.; LTD.
发明人:
LI, Shangjiang,李上奖,ZHENG, Yuanqin,郑远钦
申请号:
CNCN2016/084631
公开号:
WO2017/124680A1
申请日:
2016.06.03
申请国别(地区):
WO
年份:
2017
代理人:
摘要:
A monitoring waveform display method. The method comprises: according to received monitoring data, drawing a waveform on a current alternative pattern layer of a waveform area (S120) copying the waveform drawn on the current alternative pattern layer to a target drawing board for display (S130) and when the drawing of the waveform on the current alternative pattern layer is completed, switching another alternative pattern layer to the waveform area (S140). According to the method, the alternative pattern layer can be reused to perform waveform drawing, thereby making the displayed waveforms continuous, and improving the convenience for observation. Further disclosed is a monitoring waveform display system.Linvention concerne un procédé daffichage de formes donde de surveillance. Le procédé comprend : en fonction de données de surveillance reçues, le dessin dune forme donde sur une couche de motifs alternés actuels dune zone de forme donde (S120) la copie de la forme donde dessinée sur la couche de motifs alternés actuels sur une planche à dessin cible destinée à laffichage (S130) et lorsque le dessin de la forme donde sur la couche de motifs alternés actuels est terminé, le passage dune autre couche de motifs alternés sur la zone de forme donde (S140). Selon le procédé, la couche de motifs alternés peut être réutilisée pour réaliser le dessin de forme donde, permettant ainsi aux formes dondes affichées dêtre continues, et daméliorer la commodité dobservation. Linvention concerne en outre un système daffichage de formes dondes de surveillance.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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