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光干渉断層画像診断装置
专利权人:
テルモ株式会社
发明人:
鬼村 祐治,エイドリアン デスジャージンス
申请号:
JP2007300930
公开号:
JP5002429B2
申请日:
2007.11.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical interference tomographic image diagnosis device enabling a user to recognize whether the state of an optical path is normal or not.SOLUTION: This optical interference tomographic image diagnosis device for forming a tomographic image based on interference light acquired by allowing a measuring light to interfere with reference light is equipped with a means 408 for acquiring standard light 503 by splitting furthermore light outputted from a light source an optical path 436 for transmitting the standard light 503, wherein an optical path length until the standard light 503 interferes with the reference light 507 is approximately equal to an optical path length until the reference light 507 interferes with reflected light 506 and a means for calculating a change with time of interference light data acquired by allowing the standard light 506 to interfere with the reference light 508.COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT【課題】 光路の状態が正常であるか否かを、ユーザが認識可能な光干渉断層画像診断装置を提供する。【解決手段】 測定光と参照光とを干渉させることにより得られた干渉光に基づいて断層画像を形成する光干渉断層画像診断装置であって、光源から出力される光を更に分割し、基準光503を得る手段(408)と、基準光503を伝送するための光路436であって、基準光503が参照光507と干渉されるまでの光路長が、参照光507が反射光506と干渉されるまでの光路長と略等しい光路436と、基準光506を参照光508と干渉させることで得られた干渉光データの時間変化を算出する手段とを備える。【選択図】 図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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