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Focus / detector system of an X-ray apparatus for producing phase-contrast images, associated X-ray system and storage medium and method for producing tomographic images
专利权人:
Paul Scherer Institut;Siemens Healthcare GmbH
发明人:
Björn, Dr. Heismann,Eckhard, Dr. Hempel,Stefan, Prof. Popescu
申请号:
DE102006015358
公开号:
DE102006015358B4
申请日:
2006.04.03
申请国别(地区):
DE
年份:
2019
代理人:
摘要:
Fokus/Detektor-System (F1, D) einer Röntgenapparatur (1) zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen, mindestens bestehend aus:1.1. einer Strahlenquelle (2) mit einem Fokus (F1) und einem fokusseitigen Quellengitter (G0) , welches im Strahlengang angeordnet ist und ein Feld von strahlweise kohärenten Röntgenstrahlen erzeugt,1.2. und einer Detektoranordnung mit einer Vielzahl von nebeneinander angeordneten Gitter/Detektor-Modulen (GDx) mit seitlichen Wandungen (14), jeweils wobei die Gitter/Detektor-Module (GDx) in Strahlrichtung hintereinander angeordnet aufweisen:1.2.1. mindestens ein Phasengitter (G1x), zur Erzeugung eines ersten Interferenzmusters,1.2.2. ein Analysengitter (G2x), zur Erzeugung eines weiteren Interferenzmusters,1.2.3. wobei auf einer Seite zwischen dem Phasengitter (G1x) oder dem Analysengitter (G2x) und der Wandung (14) ein Piezoelement (12) angeordnet ist und auf der gegenüberliegenden Seite ein Federelement (13) vorliegt,1.2.4. und flächig angeordnete Detektorelemente (Dx) ,1.2.5. wobei die einzelnen Gitterlinien aller Gitter (G0, G1x, G2x) parallel zueinander ausgerichtet sind,1.2.6. und wobei ein Untersuchungsobjekt (P, 7) zwischen dem Quellengitter (G0) und dem Phasengitter (G1) anzuordnen ist.Focus / detector system (F, D) of an X-ray apparatus (1) for generating projective or tomographic phase-contrast images, at least consisting of: 1.1. a radiation source (2) having a focus (F) and a focus-side source grating (G), which is arranged in the beam path and generates a field of beam-wise coherent X-rays, 1.2. and a detector arrangement having a multiplicity of juxtaposed lattice / detector modules (GD) with lateral walls (14), in each case the lattice / detector modules (GDx) being arranged one behind the other in the beam direction: 1.2.1. at least one phase grating (G), for generating a first interference pattern, 1.2.2. an analysis grid (G), to generate another interference pattern, 1.2.3. where
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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