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OPHTHALMOLOGIC MEASURING DEVICE AND OPHTHALMOLOGIC MEASURING PROGRAM
专利权人:
NIDEK CO LTD;株式会社ニデック
发明人:
TAKII MICHIHIRO,滝井 通浩,KAWAI NORIJI,河合 規二
申请号:
JP2013248476
公开号:
JP2015104554A
申请日:
2013.11.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ophthalmologic measuring device capable of acquiring information on cornea rear face of the eyes to be examined in a simple configuration.SOLUTION: An ophthalmologic measuring device 1 includes: a kerato projection optical system 10 for projecting a pattern index to a cornea Ec of eyes E to be examined; and an imaging optical system 20 for allowing an image pickup device 27 to capture a second Purkinje image which is an index image formed by the pattern index reflecting on a cornea rear face of the eyes Ec to be examined. In addition, the ophthalmologic measuring device 1 allows a control section 100 to perform: a second Purkinje image detection processing on the basis of an image signal output from the image pickup device 27; and an anterior eye part information acquisition processing for acquiring information on the cornea rear face of the eyes E to be examined on the basis of the detection result of the detection processing.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】簡単な構成で被検眼の角膜後面に関する情報を取得できる眼科測定装置を提供する。【解決手段】眼科測定装置1は、被検眼Eの角膜Ecに向けてパターン指標を投影するケラト投影光学系10と、パターン指標が被検眼Ecの角膜後面で反射されることによって形成される指標像である第2プルキンエ像を撮像素子27で撮像する撮像光学系20と、を有している。また、眼科測定装置1では、撮像素子27から出力される撮像信号に基づいて第2プルキンエ像検出処理と、その検出処理の検出結果に基づいて被検眼Eの角膜後面に関する情報を取得する前眼部情報取得処理と、が、制御部100によって実行される。【選択図】図3
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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