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超声探头阵元的检测方法、设备及存储介质
专利权人:
深圳市理邦精密仪器股份有限公司
发明人:
彭杨,黄国静,杨永龙
申请号:
CN201910263764.2
公开号:
CN111759346A
申请日:
2019.04.02
申请国别(地区):
CN
年份:
2020
代理人:
摘要:
本发明公开了一种超声探头阵元的检测方法,该方法包括:在超声探头发射超声脉冲波时,获取待检测阵元在预设时间范围内接收到的由所述声透镜反射的回波能量;根据获取到的所述回波能量判断所述待检测阵元是否空载;获取所述待检测阵元在空载时对应的预设空载参数,根据所述预设空载参数判断所述待检测阵元是否为异常阵元。本发明还公开了一种超声探头阵元的检测设备和一种存储介质。本发明能够实现对超声探头阵元的异常情况进行快速检测,同时降低检测成本。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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