测量被测量物的特性的方法、及平板状的周期性结构体
- 专利权人:
- 株式会社村田制作所
- 发明人:
- 神波诚治,泷川和大,近藤孝志,田中功二
- 申请号：
- CN201180050825.9
- 公开号：
- CN103180716A
- 申请日:
- 2011.08.25
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2013
- 代理人:
- 王亚爱
- 摘要：
- 本发明是一种在平板状的周期性结构体（1）上保持被测量物、对所述周期性结构体（1）照射线性偏振的电磁波并基于通过所述周期性结构体（1）而前方散射或后方散射的电磁波的变化对被测量物的物性进行测量的测量方法，其中，所述周期性结构体（1）是将同一形状的单位结构体在1个基准面的方向上二维且周期性地连接多个而成的结构体，所述单位结构体具有在与所述基准面垂直的方向上贯通的至少1个空隙部（11），所述电磁波从相对于所述基准面垂直的方向进行照射，所述单位结构体的形状是相对于与所述电磁波的偏振方向正交的假想面而不成为镜像对称的形状。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
