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PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE DE SYSTÈME AUTOMATIQUE DE CT À RAYONS X
专利权人:
RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE
发明人:
WANG, Ge,CHEN, Mianyi,XI, Yan,CONG, Wenxiang
申请号:
USUS2016/023460
公开号:
WO2016/154136A1
申请日:
2016.03.21
申请国别(地区):
US
年份:
2016
代理人:
摘要:
Systems and methods for geometric calibration and image reconstruction in computed tomography (CT) scanning using iterative reconstruction algorithms are provided. An iterative reconstruction algorithm can be used to reconstruct an improved image, and then the improved image can be used to adjust inaccurate parameters by using a Locally Linear Embedding (LLE) method. Adjusted parameters can then be used to reconstruct new images, which can then be used to further adjust the parameters. The steps of this iterative process can be repeated until a quality threshold is met.L'invention concerne des systèmes et des procédés de reconstruction d'image et d'étalonnage géométrique dans un balayage par tomographie par ordinateur (CT) utilisant des algorithmes de reconstruction itératifs. Un algorithme de reconstruction itératif peut être utilisé pour reconstruire une image améliorée, puis l'image améliorée peut être utilisée pour régler des paramètres imprécis en utilisant un procédé d'intégration linéaire locale (LLE). Des paramètres réglés peuvent ensuite être utilisés pour reconstruire de nouvelles images, qui peuvent ensuite être utilisées pour régler également les paramètres. Les étapes de ce processus itératif peuvent être répétées jusqu'à ce qu'un seuil de qualité soit obtenu.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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