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Röntgen-CT-Abtastung und Dual-Source-CT-System
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Thomas Allmendinger
申请号:
DE102013203541
公开号:
DE102013203541A1
申请日:
2013.03.01
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft eine Röntgen-CT-Abtastung mit einem Dual-Source-CT-System (1), bei welcher zwei Strahlenbündel (SA, SB) jeweils derart durch Blenden (2.1, 4.1) begrenzt werden, dass diese Strahlenbündel (SA, SB), zumindest im Untersuchungsobjekt (7) frei von gegenseitigen Schnittpunkten sind. Außerdem betrifft die Erfindung auch ein Dual-Source-CT-System (1), welches Mittel zur Steuerung von strahlenbegrenzenden Blenden (2.1, 4.1) aufweist, welche die Strahlenbündel (SA, SB) derart begrenzen und ausrichten, dass diese zumindest im Untersuchungsobjekt (7) frei von gegenseitigen Schnittpunkten verlaufen.The invention relates to a x-ray ct scanning with a dual - source - ct - system (1), in which two beam of rays (sA, SB) in each case in such a way, by means of stops (2.1, 4.1) is limited, in that the beam of rays (sA, SB), at least in the examination subject (7) are free of mutual points of intersection. In addition, the invention also relates to a dual - source - ct - system (1), which includes means for the control of the beam-defining diaphragms (2.1, 4.1), which the beam of rays (sA, SB) in such a way that they define and align at least in the examination subject (7) run free of mutual points of intersection.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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