A method of full-field interference microscopy imaging of a volume sample and scattering placed on an arm object of an interference device. The method comprises producing, by means of the interference device (200), a two-dimensional interferometric signal resulting from interference between, on the one hand, a reference wave obtained by reflection of an incident light wave on a reflection surface (205) of a reference arm of the interference device (200), and, on the other hand, an object wave obtained by backscattering of the incident light wave by a coherence slice of the sample ( 206) placed in the object arm of the interference device (200)； an acquisition (320), at a fixed path difference between the object arm and the reference arm, of a raw interferometric image from the two-dimensional interferometric signal； calculating (330) a normalized image from the raw interferometric image and a reference image； calculating (340) a full-field OCT image of the coherence slice of the sample by eliminating, in the normalized image, low frequency spatial fluctuations defined as a function of the central peak width of a function of autocorrelation of the interferometric image. Procédé d'imagerie par microscopie interférentielle plein champ d'un échantillon volumique et diffusant placé sur un bras objet d'un dispositif d'interférence. Le procédé comprend une production, au moyen du dispositif d'interférence (200), d'un signal interférométrique bidimensionnel résultant d'une interférence entre, d'une part, une onde de référence obtenue par réflexion d'une onde lumineuse incidente sur une surface de réflexion (205) d'un bras de référence du dispositif d'interférence (200), et, d'autre part, une onde objet obtenue par rétrodiffusion de l'onde lumineuse incidente par une tranche de cohérence de l'échantillon (206) placé dans le bras objet du dispositif d'interférence (200) ； une acquisition (320), à différence de marche fixe entre le bras objet et le bras de référence,
