用于EM跟踪的补偿、检测和误差校正的畸变指纹分析
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- B·拉马钱德兰,A·K·贾殷
- 申请号：
- CN201280061253.9
- 公开号：
- CN103987337A
- 申请日:
- 2012.11.14
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2014
- 代理人:
- 摘要：
- 一种用于利用电磁(EM)跟踪系统考虑电磁(EM)畸变的系统包括被配置为感测目标体积中的EM能量的传感器阵列(144)。EM感测校正模块(140)被配置为分析来自所述传感器阵列的数据，以检测所述目标体积中的EM畸变引生物。所述EM感测校正模块还被配置为比较存储在数据库(142)中的畸变指纹，以识别畸变源。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
