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CT装置、検出システム、および検出方法
专利权人:
TOSHIBA CORP
发明人:
KOBAYASHI MITSUYOSHI,小林 光吉,HASEGAWA TSUTOMU,長谷川 励
申请号:
JP2016048794
公开号:
JP2017158968A
申请日:
2016.03.11
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a CT apparatus, a detection system, and a detection method for removing the peaks of scattered components in a measured energy spectrum.SOLUTION: A CT apparatus according to the embodiment comprises: a substrate a first detection region provided on the substrate for detecting light originating from a radiation a generation unit for generating a first energy spectrum of the light detected by the first detection region a storage unit corresponding to a first detector and storing data of a second energy spectrum of light corresponding to a radiation containing at least a radiation scattered or reflected by the substrate and a calculation unit for calculating a third energy spectrum by correcting the first energy spectrum generated by the generation unit with the data of the second energy spectrum stored in the storage unit.SELECTED DRAWING: Figure 10COPYRIGHT: (C)2017,JPO&INPIT【課題】測定されたエネルギースペクトルに含まれる散乱成分ピークを除去するCT装置、検出システム、および検出方法を提供する。【解決手段】本実施形態のCT装置は、基板と、前記基板に設けられ放射線に由来する光を検出する第1の検出領域と、前記第1の検出領域が検出した前記光の第1のエネルギースペクトルを生成する生成部と、前記第1の検出器に対応し前記基板で散乱または反射された放射線の少なくとも一方を含む放射線に相当する光の第2のエネルギースペクトルのデータが格納された記憶部と、前記生成部で生成された前記第1のエネルギースペクトルを前記記憶部に格納された前記第2のエネルギースペクトルのデータで補正することで、第3のエネルギースペクトルを算出する算出部と、を備えている。【選択図】図10
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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