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X線CT装置及び故障予測方法
专利权人:
HITACHI MEDICAL CORP
发明人:
YASUKOUCHI ASA,安河内 亜沙,IMAIZUMI HIDENORI,今泉 秀紀
申请号:
JP2014002496
公开号:
JP2015130908A
申请日:
2014.01.09
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an X-ray CT apparatus and a failure prediction method capable of predicting a failure of the storage devices with a high degree of precision, in an X-ray CT apparatus having a plurality of storage devices that handle data with different properties.SOLUTION: An X-ray CT apparatus 1 includes a storage device A141 for image data, and a storage device B143 for projection data. A system control device 124 sets a monitoring item for each of the storage devices A141 and B143, and acquires monitoring information related to the monitoring item from each of the storage devices A141 and B143. For example, it acquires the information on the monitoring item related to the number of rotation of a disc and an operation of a magnetic head from the storage device A141 for image data, and the information on the monitoring item related to the abrasion and sector of the magnetic head from the storage device B143 for projection data. The system control device 124 predicts a failure of the plurality of storage devices for each storage device based on the acquired monitoring information.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】 異なる特性を持つデータを取り扱う複数の記憶装置を有するX線CT装置において、精度よく記憶装置の故障を予測することが可能なX線CT装置及び故障予測方法を提供する。【解決手段】 X線CT装置1は、画像データ用の記憶装置A141と投影データ用の記憶装置B143を備える。システム制御装置124は各記憶装置A141、B143についてそれぞれの監視項目を設定し、各記憶装置A141、B143から監視項目に関する監視情報を取得する。例えば、画像データ用の記憶装置A141からはディスクの回転数及び磁気ヘッドの動作に関する監視項目、投影データ用の記憶装置B143からは磁気ヘッドの摩耗及びセクタに関する監視項目の情報を取得する。システム制御装置124は、取得した監視情報に基づいて複数の記憶装置の故障を記憶装置毎に予測する。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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