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Molecular markers for various traits in wheat and methods of use
专利权人:
E.I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY
发明人:
申请号:
IL23616014
公开号:
IL236160D0
申请日:
2014.12.10
申请国别(地区):
IL
年份:
2015
代理人:
摘要:
This disclosure relates to methods of identifying and/or selecting wheat plants or germplasm by detecting markers associated with flowering date, anther-extrusion, heading date and/or fusarium head blight resistance.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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