BALASHEVICH LEONID IOSIFOVICH,Балашевич Леонид Иосифович,NAUMENKO VLADIMIR VASILEVICH,Науменко Владимир Васильевич,NIKULIN SERGEJ ALEKSANDROVICH,Никулин Сергей Александрович,KACHANOV ANDREJ BORISOVICH
申请号：
RU2013134451/14
公开号：
RU0002533838C1
申请日:
2013.07.24
申请国别(地区):
RU
年份:
2014
代理人:
摘要：
FIELD: medicine.SUBSTANCE: invention refers to medicine, namely to ophthalmology, and can be used in studying the corneal structure by confocal microscopy. That is ensured by examining a cornea with using a disposable optically neutral soft contact lens. The lens has a base curve corresponding to a corneal curve radius, with a thickness of no more than 90 mcm and a moisture content of no more than 40%. The lens diameter shall not be 1.5 times higher than the flap diameter in case of examining the cornea after a laser-assisted in-situ keratomileusis (LASIK). After the cornea is examined after a photorefractive keratectomy (PRK), the corneal diameter shall not be 1.5 times higher than the de-epithelisation diameter.EFFECT: method enables the safe layered confocal corneal microscopy that is a contact examination technique, at an early stage after any eximer laser refraction operations.Изобретение относится к медицине, а именно к офтальмологии, и может быть использовано при исследовании структуры роговицы методом конфокальной микроскопии. Для этого при исследовании роговицы используют одноразовую оптически нейтральную мягкую контактную линзу. Линза имеет базовую кривизну, соответствующую радиусу кривизны роговицы, толщину не более 90 микрон и влагосодержание не более 40%. При этом диаметр линзы должен не менее чем в 1,5 раза превышать диаметр лоскута в случае исследования роговицы после лазерного in situ кератомилеза (LASIK). При исследовании роговицы после фоторефрактивной кератэктомии (PRK) диаметр линзы должен превышать не менее чем в 1,5 раза диаметр зоны деэпителизации. Способ обеспечивает возможность безопасного проведения послойной конфокальной микроскопии роговицы, являющейся контактным методом обследования, в ранние сроки после любых эксимерлазерных рефракционных операций.
