Axially spaced, the specimen (P), regarding short-coherence interferometric device for measuring a plurality of regions eye (A) and (T 1, T 2) in particular, the interferometer, the present invention includes a plurality irradiated specimen in (P) measurement beam individual to pass through and at least the measurement beam path, one made from (R) reference beam path of the reference beam passes, measuring the individual beams (M 1, M 2) is becomes interference state by being overlapped with the reference beam, the measuring beam of individual (M 1, M 2), when irradiated specimen to (P), relative to each other by an amount that matches the axial distance (d) The axially displaced, the interferometer device (I), with interfering manner, and also overlapped with the reference beam measurement beam individual (M 1, M 2), a detector associated with the measuring beam of each beam ( The lead D 1, D 2, to D N), .., overlaps the reference beam, M N) (M 1, M 2, .., measurement beam Individual become mixed light are combined, there is, measurement beam has a phase position different when it is superimposed with the reference beam.本発明は、軸方向に離間する、供試体(P)、特に眼(A)の複数の領域(T1、T2)を測定するためのショート・コヒーレンス干渉計装置に関し、干渉計は、複数の個別の測定ビームが通って供試体(P)に照射される少なくとも1つの測定ビーム経路、および参照ビームが通る参照ビーム経路(R)からなり、個別の測定ビーム(M1、M2)は、参照ビームと重ねられて干渉状態になり、個別の測定ビーム(M1、M2)は、供試体(P)に照射されたとき、軸方向距離(d)に適合した量だけ互いに対して軸方向に変位し、干渉計装置(I)は、干渉するやり方で、個別の測定ビーム(M1、M2)を参照ビームと重ね、また、ビームをそれぞれの測定ビームに関連した検出器(D1、D2、..、DN)へ導き、個別の測定ビーム(M1、M2、..、MN)は、参照ビームと重なり、結合されて混合光になり、そこでは、参照ビームと重ねられる際に測定ビームが別々の位相位置を有する。
