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PROCÉDÉ DE COMPTAGE ET APPAREIL DE DÉTECTION DE RAYONNEMENT
专利权人:
TOKUYAMA CORPORATION;株式会社トクヤマ
发明人:
ABURATANI, Makoto,油谷真人,FUKUDA, Kentaro,福田健太郎
申请号:
JPJP2017/025982
公开号:
WO2018/016492A1
申请日:
2017.07.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
[Problem] To provide a counting method for accurately counting radiative rays, etc., over a wide range from the state of a low counting rate to the state of a high counting rate. [Solution] Provided are: a method for setting a wave-height discriminating threshold value, and counting the frequency of signals exceeding the wave-height discriminating threshold value, wherein, when a counting objective component shows a peak in a wave-height distribution spectrum, an arbitrarily defined value selected from the range of (µ-0.4σ) to (µ+0.6σ) is set as the wave-height discriminating threshold value, where σ represents the standard deviation and µ represents the average wave-height value obtained by fitting a Gaussian function for the peak; and a radiation detection apparatus which processes signals by using the counting method. The counting method and the radiation detection apparatus according to the present invention enable reduction of an error given to a count value due to pile-up, and enable accurate counting of radiative rays, etc., over a wide range from the state of a low radiation dosage rate to the state of a high radiation dosage rate.[Problème] Fournir un procédé de comptage permettant de compter avec précision des rayons radiatifs, etc. sur une large plage allant de l'état d'un faible taux de comptage à l'état d'un taux de comptage élevé. [Solution] L'invention concerne un procédé de définition de valeur de seuil de discrimination de hauteur de vague, et de comptage de la fréquence des signaux dépassant la valeur de seuil de discrimination de hauteur de vague. Selon l'invention, lorsqu'une composante objective de comptage montre un pic dans un spectre de distribution de hauteur de vague, une valeur définie arbitrairement et choisie dans la plage allant de (µ-0,4σ) à (µ+0,6σ) est définie comme valeur de seuil de discrimination de hauteur de vague, σ représentant l'écart-type et µ représentant la valeur moyenne de hauteur de vague obtenue en ajustant une fonctio
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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