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一种基于功率谱的超声散射子直径成像方法
专利权人:
北京工业大学
发明人:
周著黄,欧阳亚丽,吴水才,高宏建,丁琪瑛
申请号:
CN201811086467.7
公开号:
CN109247951A
申请日:
2018.18.09
申请国别(地区):
CN
年份:
2019
代理人:
摘要:
本发明公开了一种基于功率谱的超声散射子直径成像方法,是基于超声射频信号,计算功率谱,再计算超声散射子直径参数并计算超声散射子直径参数图像的方法。将滑动窗口在超声射频信号上滑动,基于功率谱,计算每个滑动窗口内的超声散射子参数,得到超声散射子参数值矩阵,将超声散射子参数值矩阵插值为超声射频信号的大小,并进行颜色映射,得到超声散射子直径参数图像。本发明的超声散射子直径成像方法可用于乳腺、肝脏等生物组织的超声组织定征。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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