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ARTEFACT SERVANT À ÉVALUER LA PERFORMANCE D'UN SYSTÈME DE TOMODENSITOMÉTRIE
专利权人:
NIKON METROLOGY NV
发明人:
HILTON, Daniel,PUNIN ALBARRACIN, Diego Alfredo
申请号:
EPEP2014/052344
公开号:
WO2014/122218A1
申请日:
2014.02.06
申请国别(地区):
EP
年份:
2014
代理人:
摘要:
The invention provides a kit for assembly of an artefact for evaluating performance purposes of an X-ray CT metrology system. The artefact comprises one or more interconnectable, stackable support plates, onto which a plurality of spherical bodies is mounted. The lightweight stacked support plate structure allows for a plurality of different configurations, and can be disassembled for enhanced storage, and safe and compact transportation.La présente invention concerne un kit d'assemblage d'un artefact servant à évaluer une performance, pour un système de métrologie de tomodensitomètre. L'artefact comprend une ou plusieurs plaques de support pouvant être empilées et interconnectées, sur lesquelles une pluralité de corps sphériques est montée. La structure légère de plaques de support empilées permet d'obtenir plusieurs configurations différentes et peut être démontée pour faciliter son stockage et permettre un transport compact et sûr.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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