用于稀疏角度采样的断层摄影成像装置和方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦有限公司
- 发明人:
- M·格拉斯,T·克勒
- 申请号：
- CN201680012102.2
- 公开号：
- CN107249465A
- 申请日:
- 2016.12.12
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2017
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及一种断层摄影成像装置(1)。该装置(1)包括辐射探测器(3)，该辐射探测器用于测量穿过待成像对象行进的辐射，该辐射探测器(3)被配置成测量仅在绕轴线(z)的弯曲轨迹上的多个选定采样位置处的辐射。规划单元(12)被配置成基于对象(21)在基本垂直于所述轴线(z)的平面(x‑y)中的估计轮廓(44、53)来确定选定采样位置。此外，本发明涉及用于操作该装置(1)的方法。本发明尤其适用于计算机断层摄影成像中。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
