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磁気共鳴イメージング装置及びDualSlice計測方法
专利权人:
株式会社日立メディコ
发明人:
上田 泰声
申请号:
JP2011110913
公开号:
JP5718148B2
申请日:
2011.05.18
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce a luminance difference among slices generated by spin-echo Dual Slice measurement without depending on a B0 coil.SOLUTION: A magnetic resonance imaging apparatus calculates a frequency offset amount of at least one of a frequency of a first excitation pulse for exciting a first slice and a second excitation pulse for exciting a second slice, and a frequency of a re-convergence pulse, according to B0 components of an irregular magnetic field generated by an eddy current when a gradient magnetic field is applied. The frequency offset amount is added to at least one of the frequency of the first excitation pulse and the second excitation pulse, and the frequency of the re-convergence pulse so as to perform the Dual Slice measurement.COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT【課題】B0コイルに依らずに、スピンエコー系のDual Slice計測で発生するスライス間の輝度差を抑制する。【解決手段】傾斜磁場の印加に伴う渦電流によって発生する不正磁場のB0成分に応じて、第1のスライスを励起する第1の励起パルス及び第2のスライスを励起する第2の励起パルスの周波数、若しくは、再収束パルスの周波数、の少なくとも一方の周波数の周波数オフセット量を算出し、第1の励起パルスと第2の励起パルスの周波数、若しくは、再収束パルスの周波数、の少なくとも一方に周波数オフセット量を付加してDual Slice計測を行う。【選択図】図5
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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