スペクトル光コヒーレンス断層映像法を用いて構造データを収集する方法および装置

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专利权人:

キヤノン・オプサルミック・テクノロジーズ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン

发明人:

トマス・バイラセヴスキー,パヴェル・ダラシンキ,ヤロスラフ・ヤロンスキー

申请号：

JP2011537893

公开号：

JP5864258B2

申请日:

2009.11.27

申请国别(地区):

JP

年份:

2016

代理人:

摘要：

The sample with the maximum reflectance point, the present invention relates to a method and apparatus for collecting structured data using spectral optical coherence tomography. The maximum reflectance point, is used to adjust the route pattern that has been scanned.本発明は、最大反射率ポイントを有するサンプルから、スペクトル光コヒーレンス断層映像法を用いて構造データを収集するための方法および装置に関する。この最大反射率ポイントは、走査された経路パターンを調整するのに使用する。

来源网站：

中国工程科技知识中心

来源网址：

http://www.ckcest.cn/home/