用于影响和/或探测磁性颗粒的设备和方法
- 专利权人:
- 皇家飞利浦电子股份有限公司
- 发明人:
- S·彼德雷尔,T·f·萨特尔,T·克内普,T·M·布祖格
- 申请号：
- CN201080040232.X
- 公开号：
- CN102573623A
- 申请日:
- 2010.09.06
- 申请国别(地区):
- CN
- 年份:
- 2012
- 代理人:
- 摘要：
- 本发明涉及用于影响和/或探测视场中的磁性颗粒的MPI(磁性颗粒成像)设备和方法。不是沿单个时间消耗的高密度轨迹移动FFP(无场点)，提出使用具有前进相位的多个低密度轨迹，其中，每个所述低密度轨迹具有不同地位于视场内的闭合曲线的形式。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
