同时射线检测不同厚度材料透照参数确定方法
- 专利权人:
- 长治清华机械厂;中国运载火箭技术研究院
- 发明人:
- 程建成,刘小明,韩壮壮,赵振武,上官洛奎,柳育红,董辉,李海燕,王云飞,韩丽萍
- 申请号：
- CN201610060885.3
- 公开号：
- CN105572151A
- 申请日:
- 2016.01.28
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 冷锦超`王博飞
- 摘要：
- 本发明一种同时射线检测不同厚度材料透照参数确定方法，属于航天、航空、兵器、船舶、特种设备等的无损检测技术领域；所要解决的技术问题是提供一种同时射线检测不同厚度材料透照参数的确定方法，以便能够实现不同厚度材料同时射线检测作业，优化检测参数，保证结果稳定；通过不同厚度材料基准透照参数选取、基准参数调整、计算实际透照参数、确定布照焦距和透照时间等方法，解决了定向X射线检测透照参数适用性差、逐件流水作业等问题，实现了同时射线检测不同厚度材料，提高检测效率和结果稳定性。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
