Die Erfindung basiert darauf, dass eine Röntgenprojektion eines Untersuchungsbereichs sowie ein zugehörigen Röntgenparameters mittels einer Schnittstelle empfangen wird, wobei die Röntgenprojektion Röntgenintensitäten in einer ersten Pixelmenge umfasst, und wobei der Röntgenparameter wenigstens eine Röntgenspannung einer Röntgenquelle betrifft. Die Erfindung basiert weiterhin darauf, dass Streustrahlungsintensitäten in einer zweiten Pixelmenge mittels einer Recheneinheit bestimmt werden, wobei die zweite Pixelmenge eine Teilmenge der ersten Pixelmenge ist. Weiterhin erfolgt ein erstes Berechnen von ersten Belichtungsparametern in der zweiten Pixelmenge, wobei jeder der ersten Belichtungsparameter in einem Pixel der zweiten Pixelmenge auf der Röntgenintensität in dem Pixel und der Streustrahlungsintensität in dem Pixel basiert. Weiterhin erfolgt ein zweites Berechnen eines skalaren zweiten Belichtungsparameters basierend auf den ersten Belichtungsparametern und ein anpassen des Röntgenparameters durch Vergleich des skalaren zweiten Belichtungsparameters mit einem Referenzwert. Die Erfinder haben erkannt, dass der Röntgenparameter, insbesondere die Röntgenintensität, basierend auf einem skalaren zweiten Belichtungsparameter besonders schnell und einfach angepasst werden kann, und gleichzeitig durch die Berücksichtigung der Streustrahlungsintensität beim ersten Berechnen der ersten Belichtungsparameter die quantitative Einflüsse der Streustrahlung auf die erzeugten Röntgenbilddaten in das Anpassen des Röntgenparameters mit einfließen.The present invention is based on the fact that a projection does of an examination zone as well as an associated x-ray parameter by means of an interface is received, wherein the projection does x-ray intensities in a first pixel number, and wherein the x-ray parameter at least one x-ray voltage relates to an x-ray source. The present invention is furthermore based on the fact that radiation intensities are in a second pixel number by mea
