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LUSTER LACK STATE EVALUATION METHOD FOR LIP AND LUSTER LACK EVALUATION MODEL FOR LIP
专利权人:
KOSE CORP;株式会社コーセー
发明人:
WATANABE KEIGO,渡辺 恵悟,SHIMADA HIDEMI,嶋田 英美,OKUYAMA MASAKI,奥山 雅樹
申请号:
JP2016118400
公开号:
JP2017164458A
申请日:
2016.06.14
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for objectively, quantitatively, and correctly evaluating a luster lack feeling of lips.SOLUTION: There is provided a luster lack evaluation method for lips, configured so that, a luster lack feeling is evaluated by an index based on a maximum value of a peak intensity of a spectral reflection spectrum in each wavelength area of 450-560 nm and 620-720 nm of lips.SELECTED DRAWING: Figure 2【課題】口唇のくすみ感を客観的、定量的かつ正確に評価する方法を提供すること。【解決手段】口唇の450~560nm及び620~720nmの各波長領域における分光反射スペクトルのピーク強度の最大値に基づく指標によりくすみ感を評価することを特徴とする口唇のくすみ感の評価方法。【選択図】図2
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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