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Verfahren zur Ermittlung einer Verzeichnungsinformation und Kalibrierungsphantom
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Patrick Gross,Annemarie Bakai
申请号:
DE102012211507
公开号:
DE102012211507A1
申请日:
2012.07.03
申请国别(地区):
DE
年份:
2014
代理人:
摘要:
Verfahren zur Ermittlung einer eine geometrische Verzerrung bei der Aufnahme von Magnetresonanzbilddaten mit einer Aufnahmesequenz beschreibenden Verzeichnungsinformation, wobei ein Magnetresonanzbilddatensatz wenigstens eines Kalibrierungsphantoms (3) mit einer eine definierte Geometrie aufweisenden, in der Magnetresonanzbildgebung sichtbaren ersten Markerstruktur (7) aufgenommen wird, wobei ein Kalibrierungsphantom (3) verwendet wird, welches eine eine definierte Geometrie aufweisende, in der Computertomographiebildgebung sichtbare zweite Markerstruktur (7) aufweist, wobei ein Computertomographiebilddatensatz des Kalibrierungsphantoms (3) aufgenommen wird und die Verzeichnungsinformation durch einen Vergleich des Magnetresonanzbilddatensatzes mit dem Computertomographiebilddatensatz, insbesondere wenigstens teilweise automatisch, ermittelt wird.A method for determining a a geometric distortion in the absorption of magnetic resonant be described with a recording sequence distortion information, wherein a magnetic resonance image data set of at least one calibration phantom (3) with a having a defined geometry, in the magnetic resonance imaging visible first marker structure (7) is received, wherein a set (3) is used, which has a defined geometry, in the computed tomography imaging visible second marker structure (7), wherein a computed tomography image data set of the calibration phantom (3) is received and the distortion information by a comparison of the magnetic resonance image data set with the computed tomography image data set, in particular at least partially automatically, is determined.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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