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光干渉断層撮像装置
专利权人:
SUMITOMO ELECTRIC IND LTD
发明人:
HASEGAWA TAKEMI,長谷川 健美
申请号:
JP2014228953
公开号:
JP2015129741A
申请日:
2014.11.11
申请国别(地区):
JP
年份:
2015
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical interference tomographic imaging apparatus capable of suppressing a deterioration of OCT image quality and an increase in component cost increase, and generating a scan trigger signal.SOLUTION: The optical interference tomographic imaging apparatus comprises: a light source outputting a first laser beam whose laser oscillation wavelength and output power change with time an interference optical system splitting the first laser beam outputted from the light source into a first measuring beam and a reference beam, outputting the measuring beam for irradiating an object, causing the reference beam to propagate on a reference beam path, multiplexing a measuring beam back-scattering from the object and a reference beam propagating on the reference beam path to output the multiplexed beam, and having transmissivity that is wavelength-dependent opposite to wavelength dependence of an output power of the light source and an OCT detector for detecting interference light obtained by interference of the measuring beam and the reference beam outputted from the interference optical system, and generating a first electric signal of a value depending on an intensity of the interference light.COPYRIGHT: (C)2015,JPO&INPIT【課題】OCT画質低下および部品コスト増加を抑制することができてスキャントリガ信号を発生させることができる光干渉断層撮像装置を提供する。【解決手段】本発明の光干渉断層撮像装置は、レーザ発振波長および出力パワーが時間とともに変化するレーザ光を出力する光源と、前記光源から出力される第1レーザ光を測定光と参照光に分岐し、前記測定光を前記対象物に照射するために出力し、前記参照光を参照光路に伝搬させ、前記対象物から後方散乱された測定光と前記参照光路を伝搬した参照光とを合波して出力し、透過率が前記光源の出力パワーの波長依存性と逆の波長依存性を有する干渉光学系と、前記干渉光学系から出力された測定光と参照光とが干渉してなる干渉光を検出して、その干渉光強度に応じた値の第1電気信号を発生させるOCT検出器と、を備える。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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