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RADIATION IMAGING APPARATUS, RADIATION IMAGING METHOD, AND RADIATION IMAGING PROGRAM
专利权人:
HITACHI LTD;株式会社日立製作所
发明人:
TAKAHASHI ISAO,高橋 勲,KONNO YASUTAKA,昆野 康隆,WATANABE FUMITO,渡辺 史人
申请号:
JP2016130002
公开号:
JP2018000422A
申请日:
2016.06.30
申请国别(地区):
JP
年份:
2018
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a radiation imaging device capable of reducing artifact in an acquired reconstruction image by estimating non-uniformity of incidence distribution for a detector, and accurately estimating an amount of incident radiation.SOLUTION: A radiation imaging device includes an X-ray source 120 for irradiating an X-ray, a detection part 150 in which pixels consisting of a plurality of sub-pixels for detecting the X-ray are arrayed two-dimensionally, a signal processing part 152 for generating an output signal according to the intensity of the X-ray based on a detection signal by the sub-pixels, a signal adding part for generating an X-ray count signal for each pixel by adding output signals of sub-pixels belong to the pixel, and an image generation part for generating an image based on the X-ray count signal. The image generation part includes a non-uniformity estimation part for estimating non-uniformity of X-ray incidence distribution for the processing object pixel based on the X-ray count signal of the processing object pixel and the X-ray count signal of the pixel located in the vicinity of the processing object pixel.SELECTED DRAWING: Figure 1【課題】検出器に対する入射分布の非一様性を推定して、入射した放射線量を正確に推定することにより、取得される再構成画像におけるアーチファクトを低減させる放射線撮像装置を提供する。【解決手段】X線を照射するX線源120と、X線を検出する複数のサブピクセルからなるピクセルを二次元配列した検出部150と、サブピクセルによる検出信号に基づいてX線の強度に応じた出力信号を生成する信号処理部152と、ピクセルに属するサブピクセル子の出力信号を加算することによりピクセル毎のX線計数信号を生成する信号加算部と、X線計数信号に基づいて、画像を生成する画像生成部と、を備え、画像生成部が、処理対象ピクセルのX線計数信号と、処理対象ピクセルの近傍に位置するピクセルのX線計数信号とに基づいて、処理対象ピクセルのX線入射分布の非一様性を推定する非一様性推定部を備える放射線撮像装置。【選択図】図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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