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Verbessertes SPECT-Verfahren
专利权人:
Siemens Aktiengesellschaft
发明人:
Oliver Heid
申请号:
DE102010042517
公开号:
DE102010042517A1
申请日:
2010.10.15
申请国别(地区):
DE
年份:
2012
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft das unter der Bezeichnung ”SPECT” bekannte Bildgebungsverfahren. Die für eine SPECT-Untersuchung benötigten Radioisotope müssen heutzutage zentral in wenigen, weltweit zentralisierten Instituten hergestellt werden. Aufgrund der Transportdauer vom Herstellort zum Ort der SPECT-Untersuchung muss das ausgewählte Isotop eine vergleichsweise langsame Zerfallsrate aufweisen, damit es zum Zeitpunkt der SPECT-Untersuchung noch eine ausreichende Aktivität aufweist. Erfindungsgemäß wird die Verwendung eines ONIAC-Teilchenbeschleunigers zur Herstellung der Radioisotope vorgeschlagen, da dieser Beschleuniger prinzipbedingt eine sehr geringe Baugröße aufweist. Es ist somit möglich, den Beschleuniger vor Ort des SPECT-Scanners, d. h. bspw. im selben Gebäude, zu installieren und Radioisotope vor Ort herzustellen, so dass diese aufgrund der nunmehr unwesentlichen Transportdauer eine hohe Zerfallsrate aufweisen können. Dementsprechend kann die Bildqualität der SPECT-Untersuchung wesentlich verbessert werden.The invention relates to the under the name " spect " known imaging method. The required for a spect - examination must radioisotopes centrally in a few, be produced integrally with the worldwide centralized. Due to the transportation from the production location to the location of the spect - examination has to the selected isotope a comparatively slow decomposition rate, so that it at the time of the spect - examination has a sufficient activity. According to the invention, the use of a oniac - particle accelerator for the preparation of the radioisotopes proposed, because of this accelerator, in principle, a very small size. It is thus possible, the accelerator, in front of location of the spect - scanner, i.e, for example, in the same building, to install and to produce radioisotopes on site, so that on the basis of the achievement of the duration of the now can have a high decomposition rate. Accordingly, the image quality of the spect - examination be
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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