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一种永磁体温度系数开路测量装置及测量方法
- 专利权人:
- 中国计量科学研究院
- 发明人:
- 侯瑞芬,林安利,张志高,范雯,贺建,王京平
- 申请号：
- CN201410092802.X
- 公开号：
- CN103885009B
- 申请日:
- 2014.03.13
- 申请国别(地区):
- 中国
- 年份:
- 2016
- 代理人:
- 杨立
- 摘要：
- 本发明涉及一种永磁体温度系数开路测量装置及方法，包括天平支架，天平支架为一箱体，其内底部放置一个台架，台架上放置均匀梯度场发生装置，均匀梯度场发生装置与恒流电源连接，高温炉放置在均匀梯度场发生装置上或穿过均匀梯度场发生装置放置在台架上，高温炉与温控单元连接；天平支架的顶部放置一个分析天平，分析天平与计算机连接，计算机还与温控单元连接，分析天平下端固定一条样品悬挂线，样品悬挂线穿过天平支架的顶面延伸至高温炉内部，样品悬挂线末端连接一个样品套，样品套内放置被测样品；本发明有效解决了目前永磁体温度系数测量精度和分辨率低的问题，为航空航天领域的关键材料的测量提供方法和手段。
- 来源网站：
- 中国工程科技知识中心
- 来源网址：
- http://www.ckcest.cn/home/
