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断層撮影装置
专利权人:
株式会社島津製作所
发明人:
大原 博志
申请号:
JP2009543619
公开号:
JP4858617B2
申请日:
2007.11.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2012
代理人:
摘要:
Because the tomography device of this invention has with the attenuation quantitative calculation adjustment section and the filter long calculation section and the attenuation revision functional calculation section and the transmitted long calculation section on transaction of operation circles, it can acquire the fault picture which can do beam hardening revision making use of duplication method it is possible to do beam hardening revision. In addition, ratio with the measurement attenuation quantity at two transmitted lengths which were measured with the x-ray detector and the calculation attenuation quantity which it was calculated was adjusted at these transmitted lengths with the primary system which ties mutually in the period of two transmitted lengths, by the fact that closely resembling with linear function, you display attenuation revision function, the attenuation revision functional calculation section calculates attenuation revision function.この発明の断層撮影装置は、演算処理部内に減弱量算出調整部とフィルタ長算出部と減弱補正関数算出部と透過長算出部とを備えているので、ビームハードニング補正がなされた断層画像を取得することができ、繰り返し法を用いずにビームハードニング補正を行うことができる。また、X線検出器で測定された2つの透過長での測定減弱量と、これら透過長で算出調整された算出減弱量との比を2つの透過長間で互いに結ぶ一次式で、減弱補正関数を一次関数で近似して表すことで、減弱補正関数算出部は減弱補正関数を算出する。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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