X-ray scattering imaging can provide complementary information about the unresolved microstructures of a sample. The scattering signal can be accessed with various methods based on coherent illumination, which span from self-imaging to speckle scanning. The directional sensitivity of the existing methods is limited to a few directions on the imaging plane and it requires the scanning of the optical components, or the rotation of either the sample or the imaging setup, if the full range of possible scattering directions is desired. The present invention discloses a new arrangement that allows the simultaneous acquisition of the scattering images in all possible directions in a single shot. This is achieved by a specialized phase grating and means of recording the generated interference fringe with sufficient spatial resolution. The proposed technique decouples the sample dark-field signal with the sample orientation, which can be crucial for medical and industrial applications.Selon l'invention, une imagerie par diffusion de rayons X peut fournir des informations complémentaires concernant les microstructures non résolues d'un échantillon. Le signal de diffusion peut être accessible avec divers procédés basés sur un éclairage cohérent, qui vont de l'auto-imagerie au balayage de chatoiement. La sensibilité directionnelle des procédés existants est limitée à quelques directions sur le plan d'imagerie et ceci nécessite le balayage des éléments optiques, ou la rotation de soit l'échantillon soit le système d'imagerie, si la totalité de la plage de directions de diffusion possibles est souhaitée. La présente invention concerne un nouvel agencement qui permet l'acquisition simultanée des images de diffusion dans toutes les directions possibles en une seule fois. Ceci est réalisé par un réseau de diffraction de phase spécialisé et des moyens d'enregistrement de la frange d'interférence générée avec une résolution spatiale suffisante. La technique selon l'invention découple
