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光学断层成像装置及其控制方法
专利权人:
佳能株式会社
发明人:
小柳津圭介,青木博,坂川幸雄,吉田拓史
申请号:
CN201410042949.8
公开号:
CN103961062B
申请日:
2014.01.29
申请国别(地区):
CN
年份:
2016
代理人:
摘要:
本公开内容涉及光学断层成像装置及其控制方法。一种光学断层成像装置包括:指令单元,被配置为发出关于断层图像的成像范围的大小的指令;以及控制单元,被配置为控制测量光光路长度改变单元以在指令单元的指令之后相对于物体在深度方向上执行对准,并且将测量光的光路长度改变与发出指令所关于的大小的改变相对应的距离。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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