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X-RAY IMAGING CONDITION MODIFICATION METHOD AND X-RAY SYSTEM
专利权人:
Norihito HATAKEYAMA
发明人:
Norihito HATAKEYAMA
申请号:
US15617527
公开号:
US20180199907A1
申请日:
2017.06.08
申请国别(地区):
US
年份:
2018
代理人:
摘要:
An x-ray imaging condition modification method includes modifying a first imaging condition to a second imaging condition by changing a value of at least one parameter among parameters included in the first imaging condition to an arbitrary value, and changing values of remaining parameters that are parameters other than the at least one parameter using the arbitrary value and an approximate function.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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