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用于控制MRI系统内的主磁场漂移的系统、方法和设备
专利权人:
通用电气公司
发明人:
D·A·西伯,T·杜比
申请号:
CN200810174576.4
公开号:
CN101427919B
申请日:
2008.11.10
申请国别(地区):
CN
年份:
2012
代理人:
摘要:
本发明涉及用于控制MRI系统内的主磁场漂移的系统、方法和设备。尤其是,本发明涉及一种用于控制磁共振成像(MRI)系统中的超导磁体的暖孔的温度的设备(300),该设备包括位于所述暖孔的表面上的多个暖孔热传感器(320)以及位于所述暖孔的所述表面上的多个加热器元件(324)。加热器元件热传感器(326)耦合到所述多个加热器元件(324)中的每一个并且被配置成监测相应的该加热器元件(324)的温度。控制器(322)耦合到所述多个暖孔热传感器(320)以及所述多个加热器元件热传感器(326)。该控制器(322)被配置成控制所述多个加热器元件(324)当中的每一个,以便保持所述暖孔的预定温度。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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