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X線透視撮影装置
专利权人:
株式会社東芝
发明人:
加藤 久典
申请号:
JP2010011423
公开号:
JP5596987B2
申请日:
2010.01.21
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To accurately set conditions for fluoroscopy and conditions for radiography suitable for X-ray examination.SOLUTION: An F-kV-F-mAs line computing part 65 computes an F-kV-F-mAs line representing the correlations between fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs based on prior registered data including the fluoroscopic dose, radiographic dose and fluoroscopic tube voltage suitable for various thickness of subjects and basic data including the relational expression between the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs (fluoroscopic tube current irradiation time product) with the previously stored thickness of subjects as parameters. A fluoroscopy condition setting part 66 sets the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs suitable for a fluoroscopic mode by comparing the average pixel value and a prescribed threshold of fluoroscopic image data sequentially generated as the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs are updated along the F-kV-F-mAs line. A radiography condition setting part 67 sets the radiographic tube voltage and radiographic mAs suitable for a radiographic mode based on the fluoroscopic tube voltage and fluoroscopic mAs and the prior registered data.COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT【課題】X線検査に好適な透視条件及び撮影条件を精度よく設定する。【解決手段】F-kV・F-mAsライン算出部65は、透視線量、撮影線量及び各種被検体厚に好適な透視管電圧を含む事前登録データと、予め保管された被検体厚をパラメータとする透視管電圧と透視mAs(透視管電流照射時間積)との関係式を含む基本データとに基づいて透視管電圧と透視mAsとの対応関係を示すF-kV・F-mAsラインを算出する。そして透視条件設定部66は、このF-kV・F-mAsラインに沿った透視管電圧及び透視mAsの更新に伴って順次生成される透視画像データの平均画素値と所定閾値とを比較することにより透視モードに好適な透視管電圧及び透視mAsを設定し、撮影条件設定部67は、これらの透視管電圧及び透視mAsと上述の事前登録データに基づいて撮影モードに好適な撮影管電圧及び撮影mAsを設定する。【選択図】 図1
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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