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X-RAY MICRO IMAGING
专利权人:
JETTEC AB
发明人:
HERTZ, Hans Martin,LARSSON, Jakob Christer,LUNDSTRÖM, Ulf,LARSSON, Hans Daniel,VOGT, Carmen Mihaela
申请号:
EPEP2015/050011
公开号:
WO2015/104225A1
申请日:
2015.01.02
申请国别(地区):
WO
年份:
2015
代理人:
摘要:
The present invention provides improvements of resolution and contrast in the field of x-ray imaging by using a line emitting, quasi- monochromatic x-ray source for x-ray fluorescence computed tomography. A particular type of x-ray source suitable for this is a line emitting liquid-jet- anode x-ray source. X-ray fluorescence is obtained using nanoparticles, preferably coated nanoparticles with a metallic core. The x-ray radiation from the x-ray source is shaped and filtered using energy dispersive optics before being delivered to the nanoparticles.La présente invention concerne des améliorations de la résolution et du contraste dans le domaine de limagerie radiographique au moyen dune source de rayons X émettrice de ligne, quasi-monochromatique pour la tomographie assistée par fluorescence X. Une source de rayons X particulière adaptée pour cela est une source de rayons X à anode à jet de liquide, émettrice de ligne. La fluorescence X est obtenue au moyen de nanoparticules, de préférence des nanoparticules enrobées avec un noyau métallique. Le rayonnement de rayons X de la source de rayons X est formé et filtré au moyen dun optique à dispersion dénergie avant dêtre appliqué aux nanoparticules.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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