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OPHTHALMOLOGIC APPARATUS
专利权人:
TOPCON CORP;株式会社トプコン
发明人:
SAKAGAMI KENICHI,坂上 兼一
申请号:
JP2015212696
公开号:
JP2017080135A
申请日:
2015.10.29
申请国别(地区):
JP
年份:
2017
代理人:
摘要:
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an ophthalmologic apparatus capable of selecting a measurement mode of an eye to be examined based on a result of more precise measurement in an objective state.SOLUTION: An ophthalmologic apparatus comprises an interference optical system, a radiation position change part and a control part. The interference optical system divides a light emitted from a light source into a reference light and a measurement light, then radiates the measurement light to an eye to be examined, then generates an interference light of a return light of the measurement light and the reference light, and then detects the generated interference light. The radiation position change part is used for radiating the measurement light to plural positions of the eye to be examined. The control part selects a measurement mode of the eye to be examined, based on a detection result of plural interference lights obtained by the interference optical system, in the plural positions.SELECTED DRAWING: Figure 7【課題】他覚的により正確に測定した結果に基づいて被検眼の測定モードを選択することが可能な眼科装置を提供する。【解決手段】眼科装置は、干渉光学系と、照射位置変更部と、制御部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。照射位置変更部は、被検眼の複数の位置に測定光を照射するために用いられる。制御部は、複数の位置について干渉光学系により得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて被検眼の測定モードを選択する。【選択図】図7
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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