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METHOD TO EXTRACT PHOTON DEPTH-OF-INTERACTION AND ARRIVAL TIME WITHIN A POSITRON EMISSION TOMOGRAPHY DETECTOR
专利权人:
THE BOARD OF TRUSTEES OF THE LELAND STANFORD JUNIOR UNIVERSITY
发明人:
SPANOUDAKI, Virginia CH.,LEVIN, Craig Steven
申请号:
USUS2012/071862
公开号:
WO2013/101956A1
申请日:
2012.12.27
申请国别(地区):
WO
年份:
2013
代理人:
摘要:
A method for extracting photon depth-of-interaction of an incident photon in a crystal with a reflective coating optically coupled to all sides of the crystal, except for an opening, wherein a photodetector is optically coupled to the opening. A pulse shape of a photodetector output as a result of detection of scintillation photons from the crystal generated by the incident photon is measured, wherein the reflective coating optically coupled to all sides of the crystal, except for an opening optically coupled to the photodetector reflects the scintillation photons passing to all sides of the crystal, except for the opening optically coupled to the photodetector. The pulse shape is used to determine photon depth-of-interaction within the crystal.La présente invention porte sur un procédé pour extraire une profondeur dinteraction de photon dun photon incident dans un cristal ayant un revêtement réfléchissant optiquement couplé à tous les côtés du cristal, à lexception dune ouverture, un photodétecteur étant optiquement couplé à louverture. Une forme dimpulsion dune sortie de photodétecteur par suite dune détection de photons de scintillation provenant du cristal générée par le photon incident est mesurée, le revêtement réfléchissant optiquement couplé à tous les côtés du cristal, à lexception dune ouverture optiquement couplée au photodétecteur réfléchissant les photons de scintillation passant à tous les côtés du cristal, à lexception de louverture optiquement couplée au photodétecteur. La forme dimpulsion est utilisée pour déterminer une profondeur dinteraction de photon à lintérieur du cristal.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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