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Verfahren und System zur Nutzung von Messdaten
专利权人:
Siemens Healthcare GmbH
发明人:
Sebastian Schmidt,Grzegorz Soza
申请号:
DE102016219887
公开号:
DE102016219887A1
申请日:
2016.10.12
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要:
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Nutzung von Messdaten (TD, RD, BD, BD‘, BD*) eines Untersuchungsobjekts (10) für einen Nachbearbeitungsprozess, das zumindest folgende Schritte aufweist. In einem ersten Schritt (I) werden erste Messdaten (TD, RD, BD) erfasst, die mittels einer medizintechnisch bildgebenden Modalität (2) ermittelt wurden. In einem zweiten Schritt erfolgt eine automatische Analyse (II, II*) der ersten Messdaten auf Basis von definierten Kriterien. In diesem Schritt wird zudem optional eines Steuerparametersatz mit Hilfe einer Analyse der ersten Messdaten (II, II*) anhand von definierten Kriterien hinsichtlich zweiter Messdaten (BD‘, BD*) automatisch überprüft, welche mittels der Modalität (2) unter Verwendung des Steuerparametersatzes erfasst würden. Dabei umfassen die definierten Kriterien ein Nachbearbeitungsvermögen und/oder eine Identifikation zumindest einer Bildeigenart (A). Optionale erfolgt in einem weiteren Schritt eine Modifikation (IV) des Steuerparametersatzes. Ferner werden optional (I‘, I*) zweite Messdaten (BD‘, BD*) unter Verwendung des Steuerparametersatzes erfasst. Schließlich werden (III) der ersten Messdaten (TD, RD, BD) und/oder der zweiten Messdaten (BD‘, BD*) in einem Nachbearbeitungsprozess genutzt. Die Erfindung betrifft ferner eine Kontrolleinrichtung (15) und ein medizintechnisch bildgebendes System (1).The invention relates to a method for the use of measurement data (td, rd, vol, vol ‘, vol *) of an examination subject (10) for a finishing process, the at least comprises the steps of. In a first step (i), the first measurement data (td, rd, bd) is detected, which, by means of a medicine technically imaging modality (2) were determined. In a second step, an automatic analysis (ii, ii *) of the first measurement data on the basis of defined criteria. In this step, in addition, optionally, one control parameter set with the aid of an analysis of the first measurement data (ii, ii *) on the basis of defined criteria wi
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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