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X線検査装置及び方法
专利权人:
コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ
发明人:
プロクサ ロラント
申请号:
JP2012522290
公开号:
JP5497897B2
申请日:
2010.07.20
申请国别(地区):
JP
年份:
2014
代理人:
摘要:
The present invention relates to an X-ray examination device and a corresponding method. A fast and periodical modulation of the X-ray flux within each detection interval is performed having a low X-ray flux at the beginning of the detection interval to ensure that no detection channel is overloaded. With increasing the X-ray flux particularly the peripheral detection channels will nm into saturation, which is detected. A saturated detector channel is stopped from further detecting radiation, and the time of effective radiation detection without saturation is measured for correcting those detection signals. From all detection signals, after any correction of detection signals from saturated detection channels, an X-ray image can be reconstructed.本発明はX線検査装置及び対応する方法に関する。検出チャンネルが過負荷ではないことを保証するために、前記検出間隔の最初に低いX線束を持つ、各々の検出間隔内においてX線束の高速及び定期的な調整が行われる。X線束を増大させるに連れて、特に周辺の検出器チャンネルは飽和状態になり、これが検出される。飽和した検出器チャンネルは、これ以上の放射線の検出を停止し、飽和していない実効放射線検出の時間は、これら検出信号を訂正するために測定される。全ての検出信号から、飽和した検出チャンネルからの検出信号を何れか訂正した後、X線画像が再構成されることができる。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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