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一种浅海水下目标高光谱参数化特征提取方法
专利权人:
哈尔滨工业大学
发明人:
谷延锋,夏峙
申请号:
CN201610971539.0
公开号:
CN106501790B
申请日:
2016.11.04
申请国别(地区):
中国
年份:
2018
代理人:
杨立超
摘要:
一种浅海水下目标高光谱参数化特征提取方法,本发明涉及浅海水下目标高光谱参数化特征提取方法。本发明是为了解决现有技术直接采用全光谱或单一波长反射率作为特征时缺乏稳定性的问题。本发明步骤为:步骤一:建立水下目标离水辐射率仿真模型;步骤二:确定使目标离水辐射率仿真值与实际测量值误差最小的水下目标离水辐射率仿真模型输入参数;步骤三:将步骤二确定的输入参数中的目标估计深度与反射率作为目标的高光谱遥感特征。本发明提出通过光谱仪接收信号估计与水下目标属性有关的深度和反射率作为特征,使目标特征具有物理意义的同时提高了特征的稳定性,提高水下目标高光谱探测能力。本发明应用于光学遥感信号处理领域。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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