A method of determining parameter values used in impedance analysis of a subject. The method includes using a processing system to determine a number of impedance measurements at a corresponding number of frequencies. The impedance measurements are used to determine estimates of parameter values, with the estimates being used to determine theoretical impedance values based on the parameter value estimates. The theoretical impedance values are compared to the measured impedance values to allow a modification direction to be determined for at least one of the parameter value estimates. This is then used to modify at least one parameter value estimate, with the parameter values being determined at least in part from one or more modified parameter value estimates.Linvention concerne un procédé permettant de déterminer des valeurs de paramètres sutilisant dans lanalyse dimpédance dun sujet. Ledit procédé comprend lutilisation dun système de traitement pour déterminer un nombre de mesures dimpédance, à un nombre correspondant de fréquences. Les mesures dimpédance sutilisent pour déterminer des estimations de valeurs de paramètres, les estimations servant à déterminer des valeurs dimpédance théoriques sur la base destimations de valeurs de paramètres. Les valeurs dimpédance théoriques sont comparées aux valeurs dimpédance mesurées pour permettre une orientation de modification à déterminer pour au moins une des estimations de valeurs de paramètres, les valeurs de paramètres étant déterminées au moins en partie sur la base dune ou de plusieurs estimations de valeurs de paramètres modifiées.
