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扩散光学层析和光声层析联合测量系统及方法
专利权人:
天津大学
发明人:
李娇,王艺涵,高峰,解陶然,张燕
申请号:
CN201510346284.4
公开号:
CN104873175A
申请日:
2015.06.19
申请国别(地区):
CN
年份:
2015
代理人:
摘要:
本发明公开了一种扩散光学层析和光声层析的联合测量系统及方法,该系统包含扩散光学层析测量部分(1)、仿CT空间扫描系统(2)、光声层析测量部分(3)及工业控制计算机(4);其中:所述扩散光学层析测量部分(1)和所述光声层析测量部分(3)共同连接仿CT空间扫描系统(2)形成一个完整的多模态测量系统;所述工业控制计算机(4)中的系统自动控制软件用于实现扩散光学信号和光声信号的自动化探测和数据采集。与现有技术相比,本发明克服现有单一模态成像技术的不足,弥补现有技术在空间分辨率和定量性上无法兼得的缺陷,使成像方法兼具有光声层析技术的空间分辨率和扩散光学层析技术的定量精度,继而实现高质量的光学参数成像功能。
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/

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