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Ophthalmological device and ophthalmological examination system
专利权人:
Topcon Corporation
发明人:
Takefumi Hayashi,Kouta Fujii
申请号:
DE112017000673
公开号:
DE112017000673T5
申请日:
2017.01.13
申请国别(地区):
DE
年份:
2018
代理人:
摘要:
Das ophthalmologische Gerät gemäß der Ausführungsformen beinhaltet eine Objektivlinse, ein subjektives optisches Untersuchungssystem und ein optisches Interferenzsystem. Das subjektive optische Untersuchungssystem beinhaltet ein optisches Element, das Aberrationen in einem untersuchten Auge korrigieren kann. Das subjektive optische Untersuchungssystem projiziert über die Objektivlinse und das optische Element ein visuelles Ziel auf das untersuchte Auge. Das optische Interferenzsystem trennt Licht von einer Lichtquelle in Referenzlicht und Messlicht, strahlt das Messlicht über die Objektivlinse und das optische Element auf das untersuchte Auge, erzeugt Interferenzlicht aus dem Referenzlicht und dem zurückkehrenden Messlicht und erkennt das erzeugte Interferenzlicht.The ophthalmic apparatus according to the embodiments includes an objective lens, a subjective examination optical system, and an interference optical system. The subjective optical examination system includes an optical element capable of correcting aberrations in an examined eye. The subjective optical examination system projects a visual target on the examined eye via the objective lens and the optical element. The optical interference system separates light from a light source into reference light and measurement light, radiates the measurement light via the objective lens and the optical element to the eye under investigation, generates interference light from the reference light and the returning measurement light and detects the generated interference light.
来源网站:
中国工程科技知识中心
来源网址:
http://www.ckcest.cn/home/
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